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OMS材料物理光學(xué)屬性測(cè)量?jī)x用于測(cè)量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性,測(cè)量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.BRDF格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。
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